La difracción de Rayos-X de muestras en polvo es una técnica de caracterización básica de todo tipo de material no amorfo con estructura cristalina. Es una técnica no destructiva, que permite la recuperación del material estudiado sin ningún tipo de deterioro e indica el tipo de material que se estudia.
El objetivo de este encuentro es el aprendizaje por parte del alumnado del correcto manejo y dominio de los distintos programas de los que se puede disponer de forma gratuita, para llevar a cabo la resolución estructural de un compuesto cristalino desde su síntesis hasta su publicación en una revista científica. Para ello se abordarán nociones básicas de la resolución estructural y diseño gráfico estructural.
El encuentro, que finaliza el 12 de febrero, consta de una parte teórica y otra, práctica; en esta segunda se ha previsto la realización de seis workshops, en los que los alumnos, alrededor de una veintena, podrán aplicar los conceptos adquiridos en campos como la resolución estructural mediante el uso de texto; la resolución estructural y representación cristalográfica mediante el uso de visualizadores gráficos o las órdenes específicas del programa SHELX.
